STは独自のトレンチ･フィールドストップ技術を駆使したカスタム設計用のベア･ダイIGBTを提供しています。車載用製品については、KGD（Known Good Die）検査機器を使用できることから、徹底した試験および検査が可能となり、高いレベルの信頼性と品質が保証されます。IGBT製品はSTPOWER™</ファミリに属しています。
STのKGD検査には、以下が含まれます。
- ダイのトレーサビリティ（ウェハ･ロット、ウェハ番号、ウェハ内のダイ位置、データログ）
- 表面、裏面の全数目視検査
- データシートの全項目を試験
ご要望に応じて新しいダイ形状のIGBT製品の作製も可能です。
ベア･ダイIGBTは、粘着性フォイル付きのウェハまたはテープ&リールに封止したダイなど、さまざまなパッケージ･オプションに対応できます。
STの幅広いSTPOWER製品ポートフォリオは、最先端のパッケージと保護を兼ね備えることで高い信頼性と安全性を実現しています。これにより、設計者は、長寿命のカスタマイズされた高効率のアプリケーションに適したソリューションを容易に見つけることができます。
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Trench gate field-stop 650 V, 15 A low-loss M series IGBT die in D7 packing
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1200 V, 8 A trench gate field-stop M series low-loss IGBT die in D7 packing
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650 V, 20 A trench gate field-stop M series low loss IGBT in D7 packing
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650 V, 50 A trench gate field-stop M series low-loss IGBT die in D7 packing
